پراکندگی موج از سطوح فراکتالی با زبری نانومتری

Authors

  • سید مهدی فاضلی دانشگاه قم، دانشکده علوم پایه، گروه فیزیک، قم، ایران
  • مجید سلامی دانشکده علوم پایه، گروه فیزیک، دانشگاه آزاد اسلامی، واحد شاهرود، شاهرود، ایران
Abstract:

در این مقاله اثر سه طول مشخصه طول موج پرتو تابیده شده به سطح (l)، زبری (s) و طول همبستگی سطح (x) برای سطوح با زبری نانومتری با استفاده از شدت موج پراکنده شده به کمک تئوری پراکندگی موج کیرشهف مطالعه شده است. در این مطالعه مشخص شد که مقیاس طول همبستگی نقش مهمی در نوع پراکندگی از سطوح زبر با زبری نانومتری بازی می‌کند. تاکنون در اغلب گزارش‌ها برای پراکندگی موج از سطوح زبر از پارامتر بدون بعد ks استفاده شده است که این موضوع زمانی که تنها طول مشخصه سیستم s در نظر گرفته شود، مناسب است. اما با وجود طول مشخصه دیگری همچون طول همبستگی x شرایط متفاوت می‌شود. تا زمانی که l>>x باشد طول همبستگی تأثیری در رفتار موج پراکنده شده ندارد، ولی نتایج نشان می­دهد که وقتی x در برابر l قابل مقایسه باشد نمودار تغییرات شدت پراکندگی بر حسب ks برای حالتی که k تغییر کند یا s نتایج متفاوتی حاصل می­کند (k=2p/l عدد موج نور تابشی است). بدین منظور یک سطح زبر فراکتالی با ساختار نانومتری به عنوان نمونه انتخاب شده است و تاثیر پارامترهای مشخصه سطح بر شدت پراکندگی پخشی حاصل از آن مورد مطالعه قرار گرفته است.

Upgrade to premium to download articles

Sign up to access the full text

Already have an account?login

similar resources

تصحیح تصویر حاصل از پروفایلومترها از سطوحی با زبری نانومتری

در این مقاله نشان می­دهیم که فرآیندهای مارکوف نقشی اساسی در جاروب سطح زبر و مشخص کردن توپوگرافی آن سطح دارند. توپوگرافی سطح حاصل شده از یک پروفایلومتر مانند میکروسکوپ نیروی اتمی AFM (Atomic Force Microscope)، وابسته به برهمکنش سطح با سوزن پروب است. وقتی سایز سوزن پروب با تغییرات ارتفاع سطح قابل مقایسه باشد، تصویر سطح نسبت به سطح اصلی مقداری متفاوت خواهد داشت. اثر سوزن باعث بوجود آمدن یک تلاقی د...

full text

همبستگی تخلخل با زبری توسط طیف پراکندگی سطوح نانویی سیلیکان متخلخل

Reflection spectra of four porous silicon samples under etching times of 2, 6, 10, and 14 min with current density of 10 mA/cm2 were measured. Reflection spectra behaviors for all samples were the same, but their intensities were different and decreased by increasing the etching time. The similar behavior of reflection spectra could be attributed to the electrolyte solution concentration which ...

full text

اندازه‌گیری ضخامت و زبری لایه‌های نانومتری با استفاده از نمودار شدت فریزهای تداخلی

In the standard optical interference fringes approach, by measuring shift of the interference fringes due to step edge of thin film on substrate, thickness of the layer has already been measured. In order to improve the measurement precision of this popular method, the interference fringes intensity curve was extracted and analyzed before and after the step preparation. By this method, one can ...

full text

زبری نانومتری بر سطح الیاف پلی‌استر با استفاده از عمل‌آوری فرابنفش-ازن

فرضیه: در سال‌های اخیر روش‌های جدیدی مانند پلاسما، پرتودهی فرابنفش و عمل‌آوری با ازن برای اصلاح سطح پلیمرها به‌کار گرفته شده است. اصلاح سطح الیاف پلیمری برای بهبود قابلیت رنگرزی و ایجاد خواص فیزیکی مطلوب مانند جذب رطوبت زیاد و الکتریسیته ساکن کم انجام می‌شود. در این مطالعه، برای اصلاح خواص سطحی الیاف پلی‌استر و اکسایش سطحی آن‌ها، روش ترکیبی جدید از راه عمل‌آوری با فرابنفش-ازن ب...

full text

همبستگی تخلخل با زبری توسط طیف پراکندگی سطوح نانویی سیلیکان متخلخل

10 ma/cm2طیف بازتاب، چهار نمونه سیلیکان متخلخل تحت زمانهای خوردگی 2، 6، 10 و 14 دقیقه با چگالی جریاناندازه گیری شد. رفتار طیف بازتاب برای هر چهار نمونهیکسان، اما شدت آنها متفاوت بود و با افزایش زمان، شدت بازتاب، کاهش می یافت. دلیل عدم تغییر در رفتارهای طیف بازتاب ، یکسان بودن غلظت محلول الکترولیت در طول ساخت بوده و کاهش شدت بازتاب به دلیل کاهش ابعاد ذرات است. علاوه بر آن ناحیه مربوط به کمترین (...

full text

اندازه گیری ضخامت و زبری لایه های نانومتری با استفاده از نمودار شدت فریزهای تداخلی

بر اساس روش متعارف تداخل نوری، با اندازه گیری میزان جابه جایی فریزهای تداخلی، ضخامت لایه نازک به دست می آید. جهت افزایش دقت در سنجش ضخامت های کم و کاهش خطاهای اندازه گیری، نمودار شدت فریزها قبل و بعد از فرآیند ایجاد پله، رسم می شود. با اندازه گیری میزان جابه جایی فریزهای تداخلی، امکان اندازه گیری ضخامت لایه های نازک از مرتبه چند نانومتر فراهم می شود. همچنین با بهره گیری از جابه جایی نمودار شدت ...

full text

My Resources

Save resource for easier access later

Save to my library Already added to my library

{@ msg_add @}


Journal title

volume 7  issue 22

pages  113- 121

publication date 2015-08-23

By following a journal you will be notified via email when a new issue of this journal is published.

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com

copyright © 2015-2023